MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM)

  • Responsable : Sébastien Roland
  • Localisation : Halle 4, salle AFM (H4.0.7)
  • Marque : VEECO
  • Modèle : Multimode- NANOSCOPE V
  • Année d’acquisition : 2008
  • Application : Analyser point par point d’une surface, pour en caractériser les détails de taille pouvant être inférieure à quelques centaines de nanomètres, pourvu que le relief surfacique maximal soit inférieur à 5 µm.
  • Principe de fonctionnement : Pendant qu’une sonde nanométrique, positionnée à l’extrémité d’un micro-levier flexible, parcourt la surface, les forces d’interaction, attractives ou répulsives, entre les atomes de la pointe et les atomes surfaciques de l’échantillon sont mesurées.
  • Modes d’imagerie possibles :
    o    Contact : pour obtenir une image topographique tridimensionnelle
    o    Contact intermittent (Tapping©) : pour des mesures de module élastique
  • Enceinte thermique (-35/+250°C)
  • Pointe spécifique pour les mesures de modules mécaniques
  • Fiche sécurité ci-joint

photo AFM


























 


Livret