MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM)

• Responsable : Sébastien Roland
• Localisation : Halle 4, salle AFM (H4.0.7)
• Marque : VEECO
• Modèle : Multimode- NANOSCOPE V
• Année d’acquisition : 2008
• Application : Analyser point par point d’une surface, pour en caractériser les détails de taille pouvant être inférieure à quelques centaines de nanomètres, pourvu que le relief surfacique maximal soit inférieur à 5 µm.
• Principe de fonctionnement : Pendant qu’une sonde nanométrique, positionnée à l’extrémité d’un micro-levier flexible, parcourt la surface, les forces d’interaction, attractives ou répulsives, entre les atomes de la pointe et les atomes surfaciques de l’échantillon sont mesurées.
• Modes d’imagerie possibles :
  o    Contact : pour obtenir une image topographique tridimensionnelle
  o    Contact intermittent (Tapping©) : pour des mesures de module élastique
• Enceinte thermique (-35/+250°C)
• Pointe spécifique pour les mesures de modules mécaniques
• Fiche sécurité ci-joint