Microscopes électroniques à balayage au PIMM :

  • HITACHI 4800 II : pour l'imagerie SE/BSE et l'analyse chimique semi-quantitative EDS
    • Acquis en 2007, grâce au soutien de la Région Île de France dans le cadre du programme SESAME 2004,
      des Arts et Métiers ParisTech et du CNRS.
    • MEB à émission de champ (FEG)
    • Imagerie en électrons secondaires et rétrodiffusés
      (détecteurs dans la chambre et in lens)
    • Imagerie en photons X (EDS : THERMO Scientific
      - Silicon Drift i.e. sans azote liquide)
    • Montage et détecteurs STEM
      (Scanning Transmitted Electron Microscopy)
    • Manuel d'utilisation

Ce MEB de haute résolution permet d'observer sous faible tension d'accélération (0,5kV), sans métallisation préalable, ce qui est essentiel pour les observations de matériaux polymères et composites.

 

  • PHILIPS XL40 : pour l'imagerie SE et l'analyse EBSD
    • Acquis en 1995
    • MEB à filament de tungstène
    • Grossissement maximal de l'ordre de x100 000
    • Imagerie en électrons secondaires et rétrodiffusés 
    • Détecteur EBSD Nordif UF1000 (résolution 1 µm ; 0.5°) - logiciel TSL OIM Analysis
    • Chambre de grande taille
    • Manuel d'utilisation

        

 

    Les utilisateurs de ces MEB doivent être impérativement formés pour une utilisation autonome. 

    Localisation : PIMM - H4.0.2 (XL40) - H4.0.3 (4800)
    Contact : S.Baïz (H4.2.20) - F.Valès (H4.2.7)

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